臺式掃描電鏡在觀察照射物體的細電子束掃描時，觀察的三維結構的表面（形狀）。一般來說，用掃描電鏡是一個單向觀察圖像，使圖像是相同的圖像平面與單眼觀察。為了得到一個三維圖像，該方法是通過傾斜的載體，從不同的角度分別獲得同等的右眼和左眼觀察觀察靜止圖像（視差圖像）和合成，所以戴上紅藍眼鏡。但這種方法需要時間，也需要調整視差圖像，所以它不能實時觀察樣品的掃描電鏡圖像。這時發達的邊緣交換機照射試樣的電子束角和高速掃描技術，成功實現了左右視差圖像瞬時訪問。具體做法使用電磁透鏡的會聚作用，...

X射線衍射儀XRD是傳統X射線粉末衍射儀的優化版，通過成熟的工藝技術，配合LaueCamera801/802，可實現對單晶樣品的高精度測量。X射線衍射儀XRD的信號檢測系統常用的X射線衍射信號檢測手段如下：1.熒光板熒光板是將ZnS、CdS等熒光材料涂布在紙板上制成，當X射線信號照射到熒光板上時，熒光板就會發出熒光。常用熒光板來確認光源產生的原射線束的存在，主要用于儀器零點的調試。2.照相方法照相法是早使用的檢測并記錄X射線的方法，直到現在仍被采用。X射線與可見光一樣，能夠使...

微觀觀測的發展產生了掃描電鏡，掃描電鏡將微觀世界的清晰度從“標清”調到了“超清”，解決了地質微觀領域的瓶頸。現階段掃描電鏡在巖石學、礦物學、古生物學、礦石加工和回收利用、石油與天然氣等領域已經成為一項*的科研“利器”。掃描電鏡的日常養護規定：1.保持儀器操作臺面整潔，不允許身體倚靠，冷水機等裝置不可放置重物；2.開機時一定要先開水冷系統，并要檢查冷卻水的溫度，關機至少15分鐘后才能關閉冷卻水；3.進樣品時，檢查Z軸和T軸的位置.緩緩關閉樣品室，確保進樣倉門*關閉，才可進行抽氣...

早期的臺式電鏡僅可以分析直徑不超過25mm的樣品，但是新型臺式電鏡能夠容納直徑達60mm、高度達45mm的樣品，并允許操作人員控制樣品臺的移動和旋轉。這些特征使臺式電鏡的分析范圍更廣，可獲取高分辨率圖像，廣泛應用于材料科學、納米顆粒、制藥、生物醫學、食品藥品、紡織纖維、地質科學等諸多領域。臺式電鏡還可以被用來分析半導體及電子產品中的各種成分，并可以進行生命科學樣品各種特征的研究；還可以用在科學館，中小學校教育機構等領域。臺式電鏡的應用領域逐漸變得越來越多。或許剛剛開始使用臺式...

臺式電鏡主要用于各類微觀樣品表面形貌、組織結構進行快速檢測以及其元素成份分析，具有高低真空成像模式。可對金屬和其他導體以及作導電噴涂處理后的樣品采用高真空模式成像。對未經導電噴鍍處理的非導電樣品可進行原始狀態下的觀察，并保持樣品的原始形貌，得到真正的表面形貌。對含水量較高的樣品，可以在冷凍輔助下觀測形貌。配備能譜分析，可以對微區元素定性定量分析。配備離子濺射儀，可滿足無導電物質噴濺需求。臺式電鏡的制樣流程分析：一、觀察形貌的塊狀樣品制備清洗（干燥→吹掉浮粉）→固定→導電處理。...

場發射電鏡的電子發射源為冷場，物鏡為半浸沒式，可利用二次電子、背散射電子信號成像來觀察樣品表面形態。在高加速電壓下，二次電子圖像分辨率為1nm，背散射電子圖像分辨率3.0nm。在低加速電壓下，二次電子圖像分辨率為2nm，有利于觀察絕緣或導電性差的樣品。場發射電鏡配置的主要附件為X射線能譜儀，利用該附件可以在觀察樣品表面微觀形貌的同時進行微區成分定性和半定量以及元素分布分析。針對不導電樣品，配置高分辨磁控離子濺射儀，可以準確地為樣品噴鍍厚度均勻的導電膜，從而實現該類樣品的電鏡分...

SEM掃描電鏡從原理上講，照明體系與透射電子顯微鏡中的類似。但不一樣的是掃描電鏡有一些獨*需求，例如經聚光鏡作用后抵達樣品處的電子束應是直徑很細的電子探針；電子束能作掃描運動；末級聚光鏡的計劃應便于信號的搜集等。SEM掃描電鏡的三類電子講解：1.二次電子是指背入射電子轟擊出來的核外電子。由于原子核和外層價電子間的結合能很小，當原子的核外電子從入射電子獲得了大于相應的結合能的能量后，可脫離原子成為自由電子。如果這種散射過程發生在比較接近樣品表層處，那些能量大于材料逸出功的自由電...